文献类型：期刊文献

中文题名：晶体管热阻测试系统的设计与实现

英文题名：Design and Implementation of The Transistor Thermal Resistance Test

作者：何绍木[1];何纪法[2];周路[2]

机构：[1]绍兴文理学院计算机系;[2]绍兴宏邦电子科技有限公司

年份：2007

期号：19

起止页码：195

中文期刊名：微计算机信息

外文期刊名：Microcomputer Information

收录：北大核心2004、北大核心

语种：中文

中文关键词：晶体管;热阻;测试

外文关键词：transistor, thermal resistance, Test

中文摘要：热阻对晶体管的可靠性有着重要的影响,利用晶体管ΔVbe参数与热阻在一定条件下满足某种数学关系式,通过测量晶体管ΔVbe参数间接地测试热阻参数,实现对晶体管的质量测试,具有测量效率高、成本低、对器件无损伤等优点。

外文摘要：The thermal resistance has significant impacts on the reliability of the transistor. There is a form of relationship between ΔVbe and thermal resistance of the transistor under certain conditions. The value of thermal resistance can be calculated based on the algorithm by measuring ΔVbe characteristics of the transistor. This new technique makes the measurement of the thermal resis- tance more efficient with low cost, and no damages on device under test.