文献类型：专利

中文题名：结构面粗糙度系数统计参数Z₂与采样间距关系模型的构建方法

作者：黄曼[1];马成荣[1];杜时贵[1];夏才初[1];罗战友[1];马文会[1];许强[1];

机构：[1]绍兴文理学院;

专利类型：发明专利

申请号：CN201710830389.6

申请日：20170913

申请人地址：312000 浙江省绍兴市越城区环城西路508号

公开日：20180112

代理人：王利强

代理机构：33241 杭州斯可睿专利事务所有限公司

语种：中文

中文关键词：采样;结构面;粗糙度系数;统计参数;构建;轮廓线信息;标准轮廓;关系模型;函数关系;函数模型;拟合参数;图片格式;估测;粗糙度;高像素;轮廓线;拟合;保存;探索;图片

中文摘要：一种基于采样间距的结构面粗糙度系数与统计参数之间关系模型的构建方法，包括如下步骤：1)选取Barton标准轮廓线的高像素图片，重绘得到轮廓线，保存为图片格式；2)根据1)中得到的结构面轮廓线信息，设置不同的采样间距Δx，计算出对应的粗糙度统计参数Z₂；3)分别对不同采样间距下，结构面粗糙度系数JRC与统计参数Z₂之间的关系进行拟合；4)探索拟合参数a₁、b₁；a₂、b₂与采样间距Δx之间的函数关系，进而可构建不同采样间距下结构面粗糙度系数的函数模型。本发明能够较好的描述采样间距对结构面粗糙度系数估测的影响，从而能够快速、准确地估计不同采样间距下的结构面粗糙度系数JRC。