文献类型：专利

中文题名：基于全覆盖取样的结构面三维粗糙度系数确定方法

作者：黄曼[1];马成荣[1];罗战友[1];徐常森[1];张贺[1];杜时贵[1];

机构：[1]绍兴文理学院;

专利类型：发明专利

申请号：CN201811317049.4

申请日：20181107

申请人地址：312000 浙江省绍兴市越城区环城西路508号

公开日：20190322

代理人：王利强

代理机构：33241 杭州斯可睿专利事务所有限公司

语种：中文

中文关键词：岩石结构面;三维;粗糙度;结构面;全覆盖;取样;取样区域;岩石结构;三维激光扫描仪;三维激光扫描;粗糙度系数;三维坐标系;数字化处理;原点;粗糙信息;样品结构;样品图片;次取样;大型的;底面;下角;两边;图片;记录

中文摘要：一种基于全覆盖取样的结构面三维粗糙度系数确定方法，包括以下步骤：1)利用手持三维激光扫描仪大型的岩石结构面样品，获取结构面三维激光扫描图，并存为STL格式；2)利用MATLAB对1)中获取的图片进行数字化处理，将图片的底面旋转到水平面后，以样品图片的左下角为原点，相邻两边为X轴、Y轴，建立三维坐标系；3)对岩石结构面进行全覆盖取样；4)完成对样品结构面次取样；5)记录4)中单位取样区域的结构面粗糙信息，完成了对岩石结构面的全覆盖取样；6)求取5)中单位取样区域各自的三维粗糙度系数值并求出平均值即认为是该岩石结构面的三维粗糙度系数值。本发明能够较准确的求取大型岩石结构面三维粗糙度系数值。