文献类型：专利

中文题名：结构面粗糙度尺寸效应研究中轮廓线采样精度确定方法

作者：杜时贵[1];雍睿[1];李博[1];叶军[1];伍法权[1];夏才初[1];梁奇峰[1];黄曼[1];马成荣[1];何智海[1];

机构：[1]绍兴文理学院;

专利类型：发明专利

申请号：CN201610998652.8

申请日：20161114

申请人地址：312000 浙江省绍兴市越城区环城西路508号

公开日：20170419

代理人：王利强

代理机构：33241 杭州斯可睿专利事务所有限公司

语种：中文

中文关键词：结构面;傅里叶级数;轮廓线;采样;尺寸结构;面轮廓;拟合;逼近;尺寸条件;尺寸效应;精度确定;频率关系;最大采样;坐标数据;粗糙度;均方差;实测;近似;分析;研究

中文摘要：一种结构面粗糙度尺寸效应研究中轮廓线采样精度确定方法，包括以下步骤：(1)提取系列尺寸结构面轮廓线坐标数据；(2)采用傅里叶级数对结构面轮廓线进行逼近；(3)计算不同阶次条件下的近似拟合值；(4)设置傅里叶级数逼近的阈值；(5)计算不同阶次条件下，傅里叶级数拟合值与结构面实测值的均方差；(6)计算系列尺寸结构面轮廓曲线的傅里叶级数的最低阶次；(7)分析最低阶次平均值与结构面长度的关系；(8)依据傅里叶级数的频率关系，得到最大采样间距；(9)推测给定尺寸L的结构面轮廓线的建议采样精度。本发明能定量确定不同尺寸条件下结构面轮廓线采样精度。

公开号：CN106570338A