文献类型：专利

中文题名：基于渐进取样的结构面二维粗糙度系数确定方法

作者：马成荣[1];黄曼[1];罗战友[1];徐常森[1];张贺[1];杜时贵[1];

机构：[1]绍兴文理学院;

专利类型：发明专利

申请号：CN201811316484.5

申请日：20181107

申请人地址：312000 浙江省绍兴市越城区环城西路508号

公开日：20190315

代理人：王利强

代理机构：33241 杭州斯可睿专利事务所有限公司

语种：中文

中文关键词：岩石结构面;轮廓线;采样单元;点云数据;轮廓曲线;取样单元;结构面;二维;取样;三维激光扫描仪;三维激光扫描;粗糙度系数;直角坐标系;粗糙信息;次取样;粗糙度;样本集;样本量;截取;渐进;左端;保证

中文摘要：一种基于渐进取样的结构面二维粗糙度系数确定方法，包括以下步骤：1)利用三维激光扫描仪岩石结构面表面，获得岩石结构面三维激光扫描图，截取长度为Dcm的岩石结构面轮廓曲线，并获取其点云数据，利用MATALB处理轮廓曲线点云数据，建立直角坐标系，并使其左端点的X坐标为0；2)对轮廓线进行取样；3)完成对结构面轮廓线以dcm为采样单元，单次推进长度为Δd的次取样；4)求出每个取样单元的Z₂值；5)利用R.TSE提出的公式JRC＝32.2+32.47logZ₂,求出每个取样单元的值，并求出个的平均值JRC^2d即为该轮廓线的二维粗糙度系数值。本发明保证了采样单元之间粗糙信息不丢失，且增大了样本量，提高了样本集的代表性，使计算结果更加准确、合理。