文献类型：专利

中文题名：最优采样间距条件下的结构面粗糙度系数统计方法

作者：马成荣[1];黄曼[1];杜时贵[1];夏才初[1];罗战友[1];马文会[1];徐常森[1];许强[1];

机构：[1]绍兴文理学院;

专利类型：发明专利

申请号：CN201710822964.8

申请日：20170913

申请人地址：312000 浙江省绍兴市越城区环城西路508号

公开日：20201215

代理人：王利强

代理机构：33241 杭州斯可睿专利事务所有限公司

语种：中文

中文关键词：粗糙度系数;二维剖面;分形维数;结构面;采样;试验;绘制;岩体结构面;二维轮廓;间距条件;轮廓曲线;粗糙度;剖面线;码尺;平行;图纸;统计;扫描;转换

中文摘要：一种最优采样间距条件下的结构面粗糙度系数统计方法，包括以下步骤：1)根据选定的试验方向，沿着试验方向绘制出n条相互平行的二维轮廓剖面线，将绘制轮廓曲线的图纸进行扫描并转换为TIF格式；根据码尺法编写matlab程序，选取其中第i条二维剖面线，计算出对应的分形维数D；2)将计算得到的二维剖面曲线的分形维数D值代入公式(2)中，计算第i条二维剖面线对应的粗糙度系数特征值JRC_i；3)然后对其它n?1条曲线，同样按照步骤2)和步骤3)，计算得到相应的粗糙度系数特征值JRC_i，最后统计出结构面沿着试验方向，采样间距为Δx时的粗糙度系数平均值。本发明能够较为准确利用分形维数来描述岩体结构面粗糙度。