文献类型：专利

中文题名：基于中智数函数的结构面粗糙度尺寸效应的近似表达方法

作者：杜时贵[1];雍睿[1];叶军[1];李博[1];马成荣[1];黄曼[1];夏才初[1];张国柱[1];何智海[1];符曦[1];

机构：[1]绍兴文理学院;

专利类型：发明专利

申请号：CN201610998651.3

申请日：20161114

申请人地址：312000 浙江省绍兴市越城区环城西路508号

公开日：20170308

代理人：王利强

代理机构：33241 杭州斯可睿专利事务所有限公司

语种：中文

中文关键词：结构面;粗糙度系数;拟合;尺寸效应;方向条件;测量;标准差;粗糙度;近似;不确定性;尺寸变化;尺寸条件;函数表达;三维点云;统计分析;坐标数据;极坐标;测段;统计;绘制

中文摘要：一种基于中智数函数的结构面粗糙度尺寸效应的近似表达方法，获得结构面三维点云坐标数据；测量每个测段的结构面粗糙度系数；在不同测量方向条件下，对各个尺寸的结构面粗糙度系数分别进行统计分析，计算得到统计平均值与标准差；将统计平均值与标准差之和作为上限值、差值作为下限值；分别绘制上限值与下限值的随尺寸变化规律图；采用对数方程对上限值与下限值进行拟合；根据上限拟合值与下限拟合值，得到结构面粗糙度系数的极坐标的中智数函数表达；计算获得不同尺寸条件下结构面粗糙度系数的区间范围；获得不同测量方向条件下结构面各个尺寸的粗糙度系数的区间范围。本发明能近似表达结构面粗糙度尺寸效应不确定性。

公开号：CN106482674A