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详细信息

结构面二维轮廓曲线渐进取样方法    

文献类型:专利

中文题名:结构面二维轮廓曲线渐进取样方法

作者:黄曼[1];马成荣[1];徐常森[1];罗战友[1];张贺[1];杜时贵[1];

机构:[1]绍兴文理学院;

专利类型:发明专利

申请号:CN201811316485.X

申请日:20181107

申请人地址:312000 浙江省绍兴市越城区环城西路508号

公开日:20190315

代理人:王利强

代理机构:33241 杭州斯可睿专利事务所有限公司

语种:中文

中文关键词:岩石结构面;采样单元;轮廓曲线;轮廓线;结构面;渐进;取样;样本;三维激光扫描仪;三维激光扫描;粗糙度信息;样本代表性;粗糙信息;点云数据;二维轮廓;次取样;样本量;采样;截取;编程;保证

中文摘要:一种结构面二维轮廓曲线渐进取样方法,包括以下步骤:1)利用三维激光扫描仪岩石结构面表面,获得岩石结构面三维激光扫描图,截取长度为Dcm的岩石结构面轮廓曲线;2)对轮廓曲线进行处理,获取轮廓曲线的点云数据;3)对轮廓线进行采样;4)m依次取值为即可完成对结构面轮廓线以dcm为采样单元,Δd为单次推进长度的次取样;5)利用MATLAB编程,各个样本的点的坐标集进行处理获取各个样本的粗糙度信息,完成了对一条大型岩石结构面轮廓线的渐进取样。本发明在增大样本量提高样本代表性的同时,通过采样单元之间的相互重叠,保证了采样单元之间粗糙信息不丢失。

参考文献:

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