文献类型：专利

中文题名：一种基于单片机的开短路漏电测试仪

作者：黄旭东[1];陈坤[1];

机构：[1]绍兴文理学院;

专利类型：实用新型

申请号：CN201920219293.0

申请日：20190221

申请人地址：312000 浙江省绍兴市越城区环城西路508号

公开日：20191126

代理人：蒋卫东

代理机构：33220 绍兴市越兴专利事务所(普通合伙)

语种：中文

中文关键词：主控单元;输出端;输入端连接;模式切换单元;测试单元;电源单元;输入端;测试技术领域;集成电路封装;测试;本实用新型;漏电测试仪;输出端连接;漏电;短路测试;封装产品;高效快速;快速检测;物理缺陷;单片机;短路;电性

中文摘要：本实用新型提供了一种基于单片机的开短路漏电测试仪，涉及集成电路封装测试技术领域，包括电源单元、主控单元、DA转换单元、模式切换单元、测试单元和AD转换单元；所述主控单元的输入端与所述电源单元连接，所述主控单元的输出端与所述DA转换单元连接，所述模式切换单元的输入端与所述主控单元的输出端连接，所述模式切换单元的输出端与所述DA转换单元的输入端连接，所述DA转换单元的输出端与所述测试单元的输入端连接，所述测试单元的输出端与所述AD转换单元的输入端连接，所述AD转换的输出端与所述主控单元的输入端连接。具备开短路测试和漏电测试的功能，可以高效快速地完成这两个测试，因而达到快速检测封装产品中可能存在的电性物理缺陷。

公开号：CN209690459U